ข้อมูลจริงใช้ใน test ควรทำอย่างไร

ปิด log เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพ
รอให้เกิดความเสียหายก่อน
ให้สิทธิสูงสุดเพื่อแก้ปัญหาเร็ว
ใช้ข้อมูลสังเคราะห์หรือ mask

เฉลยอธิบาย

แนวทางนี้ลดความเสี่ยงตามวงจร Govern–Identify–Protect–Detect–Respond–Recover ของ NIST CSF 2.0

ข้อสอบอื่นในวิชาความรู้ด้านเทคโนโลยีสารสนเทศ

ดูข้อสอบวิชานี้ทั้งหมด →